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28LQ50TS14040/MLP/MLF/QFN28烧录夹具4X4适配IC芯片老化测试座
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28LQ50TS14040/MLP/MLF/QFN28烧录夹具4X4适配IC芯片老化测试座

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测试座+转接板(未焊接) 登录可见 登录可见 0 577261565587-1
测试座+转接板(已焊接) 登录可见 登录可见 0 577261565587-2
测试座 登录可见 登录可见 0 577261565587-3

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