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DFN8/DFN2X2-8(0.5)老化座IC芯片老化测试座烧录座间距0.5MM镀金
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DFN8/DFN2X2-8(0.5)老化座IC芯片老化测试座烧录座间距0.5MM镀金

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测试座+转接板(未焊接) 登录可见 登录可见 0 538983015451-1
测试座+转接板(已焊接) 登录可见 登录可见 0 538983015451-2
测试座 登录可见 登录可见 0 538983015451-3

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